紫外可見分光光度計 分光光度計 光度檢測儀
型號：JC15-752
產(chǎn)品說明：
752、754、756PC產(chǎn)品適用于對紫外、可見光譜區(qū)域內(nèi)物質(zhì)的含量進行定量分析，可廣泛應(yīng)用于工廠、學(xué)校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、環(huán)保、石油化工、醫(yī)療衛(wèi)生等單位的基礎(chǔ)實驗室。
功能
自動波長，鍵盤輸入，波長設(shè)定和轉(zhuǎn)換更快速。
一階過零、一階線性標準曲線測試、zui多可建立12個標樣點的標準曲線。
標定曲線擬合度，濃度直讀，可保存50條曲線參數(shù)。
濃度因子設(shè)定和濃度設(shè)定的濃度直讀功能，可保存200條測試記錄。
系統(tǒng)時鐘管理，暗電流校正，波長校正，USB數(shù)據(jù)接口，燈切換波長設(shè)置。
8鍵鍵盤，內(nèi)置6個常用工作波長，一鍵調(diào)取（752）
UV-Solution 2.0工作站軟件，具有各種測試、掃描功能（756PC）
型號 | 752 | 754 | 756PC |
帶寬 | 4nm | 4nm | 2nm |
波長范圍 | 200~1000nm（步進間隔0.1nm） | 190~1100nm（步進間隔0.1nm） | 190~1100nm（步進間隔0.1nm） |
波長準確度 | ±2.0nm（開機自動校準） | ±1.0nm（開機自動校準） | ±1.0nm（開機自動校準） |
波長重復(fù)性 | 1nm | 0.5nm | 0.5nm |
測定范圍 | T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F(xiàn)：0～9999，C：0～9999 | ||
透射比準確度 | ±0.5%T | ||
透射比重復(fù)性 | ±0.2%T | ||
雜散光 | ≤0.5%T（在220nm、340nm處） | ≤0.3%T（在220nm、340nm處） | ≤0.15%T（在220nm、340nm處） |
基線直線性 | / | / | ±0.004A |
穩(wěn)定性/基線漂移 | ±0.003A/h | ±0.002A/h | ±0.002A/h |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 | ||
外形尺寸：455*430*220（mm）
軟件功能說明
軟件型號 | 適用儀器 | 軟件功能 |
UV-Solution 1.0 | 752、754 | 定量測試、吸光度監(jiān)視等功能 |
UV-Solution 2.0 | 756PC | 定量測試：可進行一、二、三階擬合標準曲線測試，zui多可通過20個標樣建立標準曲線。可選擇單波長，雙波長或三波長條件下測試。 動力學(xué)測試：對樣品進行時間掃描，測試時間可達7天。采樣時間0.5、1、2、5、10、30、60秒可選，可保存10000條測試數(shù)據(jù)。 波長掃描：在任意波長范圍內(nèi)以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的掃描間隔對樣品進行掃描，并對圖譜進行縮放、平滑、四則運算、坐標調(diào)整、峰/谷自動檢測、1~ 4階導(dǎo)數(shù)等數(shù)據(jù)處理，可容納八個掃描圖譜。 多波長測試：zui多可設(shè)置15個測試波長點。 數(shù)據(jù)導(dǎo)出：數(shù)據(jù)和圖譜可導(dǎo)出為txt和bmp格式文件供用戶編輯。 附功能：核糖核酸/蛋白質(zhì)測量：快速測量DNA樣品在特定波長下的吸光度，自動計算樣品濃度及DNA Ratio。 |
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